1부:오토모티브ㆍ파워ㆍ임베디드 시스템 측정을 위한 “5 Series MSO Scope” 소개2부:IoT 및 임베디드 시스템의 각종 케이블의 시험을 위한 VNA 및 EMI 측정 소개
2017-08-31 10:30~11:53
Tektronix / 1부: 박영준 부장, 2부: 이기응 이사
-1부-
엔지니어는 하드웨어 시스템 설계 및 개발에 있어서 가장 중요한 요소인 설계 Device Under Test(DUT) 의 성능과 효율성을 고려하여 최적의 측정 솔루션을 찾고 있습니다. 특히, 오토모티브ㆍ파워ㆍ임베디드 시스템 하에서의 하드웨어 설계가 점차 고도화되면서, 기술 집약된 DUT개발 시 고려해야 할 여러 솔루션 사이에서 특히, 오실로스코프의 기능적인 요청은 더욱 다변화 되고 있습니다.
오토모티브 및 파워 측정에서 다채널 오실로스코프에 대한 수요가 있으며, 임베디드 시스템에서 노이즈 측정을 위해 강력히 요구되는 Vertical 해상도의 검증을 위한 12bit 이상의 측정 성능을 가진 오실로스코프에 대한 수요, 더불어 아날로그 시그날의 측정을 넘어 동시에 수십여 개에 달하는 디지털 채널의 로직 기능을 한 번에 검증하고자 하는 수요가 있습니다. 나아가 오실로스코프의 기능을 넘어 Function Generator 의 역할 등을 동시에 소화할 수 있는 장비 역시 엔지니어들이 원하는 사양이 되어 가고 있습니다.
이에 Tektronix에서 최근 발표한 “5 시리즈 MSO 스코프”는 Linux 및 Windows 10을 탑재였으며, 15.6 인치의 최신 Touch UI를 사용합니다. 또한, 최대 8개의 아날로그 채널 및 64개의 디지털 채널을 함께 제공하며, Vertical 해상도를 최대 16bit까지 지원 가능합니다. 특히, 전통적으로 강력한 개발 검증 솔루션을 제공하였던 Tektronix 의 기술력이 집약된 애플리케이션(I2C, SPI, RS-232, CAN, LIN, FlexRay, USB, Ethernet, 10/100BASE-T, AUDIO(I2S/LJ/RJ/TDM) ) 및 지터(Eye)를 검증 가능한 5 시리즈 MSO를 소개하도록 하겠습니다.
-2부-
사물인터넷은 각종 사물에 센서와 통신 기능을 내장하여 인터넷에 연결하는 기술로서, 안테나 및 RF 부품 등 통신부품이 주요 부품으로 필요합니다. 또 다른 유망산업인 드론의 경우, 2016년 한국이 세계 최초로 드론 전용 주파수를 5.03G ~ 5.09GHz로 할당하면서, 드론의 개발 및 시험에 대한 요구가 높아지고 있습니다. 더불어 커넥티드카, 웨어러블 디바이스, 스마트 폰 등에 내장되는 베이스밴드(baseband) 디바이스 및 RF의 테스트 또한 요구됩니다.
이러한 통신부품의 테스트 항목으로는 필터의 경우 정확한 통과대역 검증, 믹서는 RF 성능, 안테나는 Matching과 Tuning을 위해 VSWRㆍ반사손실ㆍ삽입손실 및 및 안테나의 사용주파수 범위를 확인하기 위한 Bandwidth 측정 등이 주 시험 항목입니다. 특히, 주파수 도메인(frequency domain)에서 측정되는 “S-파라미터” 관련 측정이 주요 테스트 대상이며, 부가적으로 “임피던스” 측정이 필요합니다. 이를 위해서는 “벡터 네트워크 분석기(Vector Network Analyzer, VNA)”가 활용됩니다. 하지만, 이 장비는 고가이며 조작의 어려움이 있습니다. 또한 2포트에서 4포트로 확장할 수 없으며, sweep point 가 3,000~7,000개 정도로 제한되어 가격 대비 성능이 부족합니다. 그 밖에 VNA는 수GHz 대역 내의 다양한 종류의 케이블의 물리적 특성 측정 시에도 사용되고 있습니다. 이처럼 VNA는 기본적으로 주파수 도메인 측정 장비로서 부품 손실 크기를 측정할 수 있으나, 실질적인 개선이 요구되는 취약부(failure location) 지점을 정확히 찾지 못하는 한계가 있습니다.
반면, “TDR(Time Domain Reflectometry)” 기능은 타임 도메인(time domain)에서 측정 가능하므로, 손실 발생 지점을 쉽고 편리하게 알 수 있어 VNA의 한계를 보완하므로, 많은 엔지니어들이 부품 결함 부위나 성능 개선을 위해 테스트 항목으로 사용하고 있습니다.
또한, 안테나 및 EMI 신호가 많이 발생하는 부품의 경우 “EMI 테스트”가 필요합니다. 하지만, 정규 테스트랩에서 이를 실시하기에는 많은 시간과 노력, 경비가 소요되어 어려움이 있었습니다. 이에 텍트로닉스는 보다 저렴한 가격으로 고성능 스펙트럼을 제공하는 “Pre-EMI” 테스트를 지원하고 있습니다.
본 세션에서는 앞에서 열거한 다양한 테스트의 설명 및 텍트로닉스가 최근 출시한 PC형 VNA그리고 EMI pre-compliance를 지원하는 스페트럼 분석기 등을 이용한 측정에 대해 심도 있게 설명할 예정입니다.
엔지니어는 하드웨어 시스템 설계 및 개발에 있어서 가장 중요한 요소인 설계 Device Under Test(DUT) 의 성능과 효율성을 고려하여 최적의 측정 솔루션을 찾고 있습니다. 특히, 오토모티브ㆍ파워ㆍ임베디드 시스템 하에서의 하드웨어 설계가 점차 고도화되면서, 기술 집약된 DUT개발 시 고려해야 할 여러 솔루션 사이에서 특히, 오실로스코프의 기능적인 요청은 더욱 다변화 되고 있습니다.
오토모티브 및 파워 측정에서 다채널 오실로스코프에 대한 수요가 있으며, 임베디드 시스템에서 노이즈 측정을 위해 강력히 요구되는 Vertical 해상도의 검증을 위한 12bit 이상의 측정 성능을 가진 오실로스코프에 대한 수요, 더불어 아날로그 시그날의 측정을 넘어 동시에 수십여 개에 달하는 디지털 채널의 로직 기능을 한 번에 검증하고자 하는 수요가 있습니다. 나아가 오실로스코프의 기능을 넘어 Function Generator 의 역할 등을 동시에 소화할 수 있는 장비 역시 엔지니어들이 원하는 사양이 되어 가고 있습니다.
이에 Tektronix에서 최근 발표한 “5 시리즈 MSO 스코프”는 Linux 및 Windows 10을 탑재였으며, 15.6 인치의 최신 Touch UI를 사용합니다. 또한, 최대 8개의 아날로그 채널 및 64개의 디지털 채널을 함께 제공하며, Vertical 해상도를 최대 16bit까지 지원 가능합니다. 특히, 전통적으로 강력한 개발 검증 솔루션을 제공하였던 Tektronix 의 기술력이 집약된 애플리케이션(I2C, SPI, RS-232, CAN, LIN, FlexRay, USB, Ethernet, 10/100BASE-T, AUDIO(I2S/LJ/RJ/TDM) ) 및 지터(Eye)를 검증 가능한 5 시리즈 MSO를 소개하도록 하겠습니다.
-2부-
사물인터넷은 각종 사물에 센서와 통신 기능을 내장하여 인터넷에 연결하는 기술로서, 안테나 및 RF 부품 등 통신부품이 주요 부품으로 필요합니다. 또 다른 유망산업인 드론의 경우, 2016년 한국이 세계 최초로 드론 전용 주파수를 5.03G ~ 5.09GHz로 할당하면서, 드론의 개발 및 시험에 대한 요구가 높아지고 있습니다. 더불어 커넥티드카, 웨어러블 디바이스, 스마트 폰 등에 내장되는 베이스밴드(baseband) 디바이스 및 RF의 테스트 또한 요구됩니다.
이러한 통신부품의 테스트 항목으로는 필터의 경우 정확한 통과대역 검증, 믹서는 RF 성능, 안테나는 Matching과 Tuning을 위해 VSWRㆍ반사손실ㆍ삽입손실 및 및 안테나의 사용주파수 범위를 확인하기 위한 Bandwidth 측정 등이 주 시험 항목입니다. 특히, 주파수 도메인(frequency domain)에서 측정되는 “S-파라미터” 관련 측정이 주요 테스트 대상이며, 부가적으로 “임피던스” 측정이 필요합니다. 이를 위해서는 “벡터 네트워크 분석기(Vector Network Analyzer, VNA)”가 활용됩니다. 하지만, 이 장비는 고가이며 조작의 어려움이 있습니다. 또한 2포트에서 4포트로 확장할 수 없으며, sweep point 가 3,000~7,000개 정도로 제한되어 가격 대비 성능이 부족합니다. 그 밖에 VNA는 수GHz 대역 내의 다양한 종류의 케이블의 물리적 특성 측정 시에도 사용되고 있습니다. 이처럼 VNA는 기본적으로 주파수 도메인 측정 장비로서 부품 손실 크기를 측정할 수 있으나, 실질적인 개선이 요구되는 취약부(failure location) 지점을 정확히 찾지 못하는 한계가 있습니다.
반면, “TDR(Time Domain Reflectometry)” 기능은 타임 도메인(time domain)에서 측정 가능하므로, 손실 발생 지점을 쉽고 편리하게 알 수 있어 VNA의 한계를 보완하므로, 많은 엔지니어들이 부품 결함 부위나 성능 개선을 위해 테스트 항목으로 사용하고 있습니다.
또한, 안테나 및 EMI 신호가 많이 발생하는 부품의 경우 “EMI 테스트”가 필요합니다. 하지만, 정규 테스트랩에서 이를 실시하기에는 많은 시간과 노력, 경비가 소요되어 어려움이 있었습니다. 이에 텍트로닉스는 보다 저렴한 가격으로 고성능 스펙트럼을 제공하는 “Pre-EMI” 테스트를 지원하고 있습니다.
본 세션에서는 앞에서 열거한 다양한 테스트의 설명 및 텍트로닉스가 최근 출시한 PC형 VNA그리고 EMI pre-compliance를 지원하는 스페트럼 분석기 등을 이용한 측정에 대해 심도 있게 설명할 예정입니다.
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1부: 박영준 부장, 2부: 이기응 이사
웨비나 댓글
- 55 Comments
- 신*영 (2024-03-22 오전 9:18:04)
- 좋은 세미나 감사합니다.
- 이*진 (2024-03-22 오전 9:17:54)
- 좋은 세미나 감사합니다.
- 홍*음 (2017-11-02 오후 4:13:21)
- 좋아요
- 홍*음 (2017-11-02 오후 4:12:32)
- 기대 됩니다
- 손*환 (2017-09-01 오전 7:08:59)
- 세미나 기대합니다
- 최*민 (2017-08-31 오전 10:15:59)
- 좋은 세미나 기대합니다.
- 표*건 (2017-08-31 오전 9:43:59)
- 기대합니다.
- 김*주 (2017-08-30 오후 10:36:40)
- 8채널 스코프 제품의 성능 및 기능이 많이 궁금해집니다. 기대합니다.
- 정*균 (2017-08-30 오후 12:16:05)
- 유익한 세미나 기대합니다.
- 류*환 (2017-08-30 오전 11:19:23)
- 여러가지유용한 솔류션과 어플리케이션소개 부탁드립니다.
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