최신 WBG 전력 반도체 측정을 위한 Tektronix 더블 펄스 테스트(DPT) 웨비나
**더 빠르게, 더 정밀하게!
SiC & GaN 기반 고속 스위칭 소자 테스트의 필수 솔루션**
와이드 밴드갭(WBG) 반도체인 SiC, GaN 채택이 늘어나면서,
더 높은 전압, 더 빠른 스위칭, 더 정밀한 측정이 필수 요건으로 떠오르고 있습니다.
이번 웨비나에서는 Tektronix 오실로스코프 기반 DPT 솔루션으로
스위칭 성능 측정의 주요 과제를 어떻게 해결할 수 있는지 소개합니다. 📌 웨비나 주요 내용

1. WBG 전력 반도체 테스트 트렌드 & 주요 과제
   • SiC & GaN의 고속 스위칭 특성 변화에 따른 측정 난이도
2. 더블 펄스 테스트(DPT) 기본 원리와 필요성
   • 스위칭 손실, EMI, 효율 평가의 핵심 테스트
3. 공통 모드 노이즈 최소화를 위한 계측 기법
   • 정밀 측정을 위한 노이즈 제거 방법
4. JEDEC/IEC 표준 기반 자동화 스위칭 손실 분석
   • 고정밀 & 반복 테스트 환경 구현
5. 고속 스위칭 환경에서 신뢰성 높은 전류·전압 측정
   • 최신 프로브 기술로 신호 왜곡 최소화
6. Tektronix DPT 솔루션을 통한 Si, SiC, GaN MOSFET 및 IGBT 테스트 최적화
   • 다양한 전력 소자에 적용 가능한 완성도 높은 테스트 솔루션 제공

⚙️ Tektronix DPT 솔루션의 차별화 포인트
✅ 최첨단 오실로스코프 & 프로브 구성

• 수백 MHz~GHz 대역에서도 신호 왜곡 없이 정밀 측정
• IsoVu 절연 차동 프로브로 100dB+ 공통 모드 노이즈 제거

✅ 자동화된 테스트 & 분석 환경

• JEDEC/IEC 표준 기반 스위칭 손실 자동 측정
• 소프트웨어 연동으로 테스트 반복 & 분석 효율 극대화

✅ 정밀한 펄스 생성 및 제어

• AFG31000 임의 파형 발생기 내장 소프트웨어로
  펄스 폭, 타이밍 직관적으로 설정 → DPT 최적화

✅ 원격 제어 지원

• 네트워크 연동으로 오실로스코프 원격 제어 가능

이런 분들께 추천합니다
✔️ Si, SiC, GaN MOSFET 및 IGBT 테스트 엔지니어
✔️ 정확한 스위칭 손실 평가로 시스템 효율을 높이고 싶은 분
✔️ 고속 스위칭 환경에서 측정 정밀도 & 안정성 확보가 필요한 분 최신 WBG 반도체 테스트, Tektronix DPT 솔루션으로
정밀 측정과 효율적 설계를 동시에 잡아보세요!