더블 펄스 테스트(DPT)를 통한 WBG 반도체 스위칭 성능 최적화
2025-03-27 10:30~12:00
Tektronix / Cameron Lowe
이*규2025-03-27 오전 10:59:22
SiC 및 GaN과 같은 WBG 반도체는 빠른 스위칭 속도로 인해 전압 및 전류 측정 시 신호 왜곡과 공통 모드 노이즈 문제가 발생할 가능성이 큽니다. Tektronix DPT 솔루션이 이러한 문제를 해결하기 위해 제공하는 프로브 기술과 측정 기법의 차별점은 무엇인가요? 특히 GHz 대역에서도 신뢰성 높은 측정을 보장하는 핵심 기술이 궁금합니다tektronix12025.03.27
이와 관련된 두가지 절연 프로브가 있습니다. TIVP와 TICP 인데요, 이 프로브들은 각각 광절연, RF 절연을 이용해서 공통모드 노이즈 제거율을 높여 측정할 수 있게 해줍니다. 특히 기존에 측정이 어려웠던 High side의 Vgs도 측정할 수 있게 되었습니다.지*호2025-03-27 오전 10:56:41
감사합니다.조*영2025-03-27 오전 10:56:35
WBG 반도체의 스위칭 성능 최적화가 다양한 산업(전기차, 재생 가능 에너지 등)에 어떻게 활용되는지 궁금합니다.강*성2025-03-27 오전 10:56:11
주제와 다르지만 온도 측정할 수 있는 프루브 있나요? 순간적인 온도 전압 전류를 동시에 찍었으면 하는데 방법을 찾고 있습니다.tektronix22025.03.27
온도 프로브가 있긴 하지만, 전압, 전류를 동시에 측정하려면 여러 프로브를 조합하여 사용할 수 있습니다. 상세 요구 사항을 공유해주시면 제안 드려보도록 하겠습니다 ^^김*영2025-03-27 오전 10:55:18
WBG PKG test 전용 board 또는 socket이 지원되고 있나요?tektronix12025.03.27
Tek에서는 board나 socket이 지원되지는 않지만 저희 파트너인 PE-Systems를 통해서 Gate driver, test fixture 등등 뿐만 아니라, 완전 자동화된 측정도 가능합니다.조*식2025-03-27 오전 10:55:09
로고스키 대신 동축 션트 저항을 사용하지 않았던 가장 큰 이유가 일반 BNC 케이블을 사용해서 오실로스코프에 연결하면 Vgs 에 간섭을 주는 등의 일이 있어서 였는데 TICP 를 사용하면 이를 방지 할 수 있다는 건가요?tektronix12025.03.27
네 맞습니다. TICP는 RF 절연을 통해서 동축 션트 저항을 사용하는 경우에도 영향을 최소화 합니다.이*욱2025-03-27 오전 10:55:02
WBG의 DPT 에서는 굉장히 빠른 스위칭으로 ns 단위로 값이 바뀝니다. 결국 손실 측정에 있어서 deskew 조절이 그만큼 중요하다는 얘기인데요, deskew 관련된 지침이라던지 팁이 있을까요tektronix12025.03.27
맞습니다. Deskew에 따라 측정값이 차이가 있습니다. Tektroniox에서는 프로브의 기본 Delay값을 통한 deskew, fixture를 이용한 deskew제공하며, 특히 WBG-DPT software에서는 자동 Dedeskew를 제공합니다. 기존에 CVR등을 사용하면서 Deskew가 어려웠던 것도 이 WBG-DPT software를 이용해서 쉽게 가능합니다.주*원2025-03-27 오전 10:53:22
현재 업계 동향 및 앞으로의 발전 방향에 대해서 문의드립니다tektronix22025.03.27
앞서 웨비나 서두에 말씀드린 것처럼, 전기화 추세에 따라 자동차를 시작으로 다양한 산업에 전기화가 요구되고 있습니다. 데이터센터용 전력 시스템, 방위 산업 등에 확산 되고 있습니다.이*성2025-03-27 오전 10:52:50
아 네 WBG 가 되면 고속 스위칭이 되어 그 필요성이 커지는 거군요. 회신 감사합니다.tektronix22025.03.27
네, 맞습니다. SiC와 GaN 소자가 기존 실리콘 소자보다 훨씬 고속 스위칭이 되는 특성에 기인하여 이런 특성을 DPT로 측정합니다.조*영2025-03-27 오전 10:47:51
WBG 반도체의 스위칭 과정에서 발생하는 잡음을 줄이기 위한 회로 설계(예: 필터링, 차폐 등) 방법이 궁금합니다.
